远方BBMS-4000空间透反射分布测试系统 可分析测量材料表面的反射、透射特性，可测参数包括材料的双向透射分布（BTDF）、双向反射分布（BRDF）、反射比分布、透射比分布、总反射（TIR）、总散射（TIS）等，特别适合手机屏、雷达视窗、光学膜材、特种镀层、涂层、纸张、玻璃、异形铝材、塑胶等材料表面光学特性的定量分析。系统可以可以导出标准BSDF文件至Tracepro、Zemax等

远方BBMS-3000反射透射空间分布测试系统 BBMS-3000双向反射透射空间分布测量系统可分析测量材料的反射、透射空间分布特性。可测参数包括材料的双向透射分布（BTDF）、双向反射分布（BRDF）、反射比分布、透射比分布、总反射（TIR）、总散射（TIS）等，系统可以导出标准文件至lighttools、Tracepro、Zemax、Speos等光学软件中，用于辅助光学材料或系统的模拟、

联讯eDH3101高温高湿老化系统是一体化高温高湿双85老化系统，一个针对第三代半导体芯片可靠性测试的完整的双温高湿双85 Turn-key解决方案。 联讯仪器eDH3101主要适用于GaAs和GaN射频器件和功率器件的高温高湿试验。该系统已经在激光器芯片行业和第三代半导体两大行业通过大量认证，是一个可靠稳定的系统。

联讯CT8201激光器芯片测试系统联讯仪器 CT8201 激光器芯片测试系统是针对激光二极管LIV、光谱及近场/远场参数测试需求开发的。

联讯TO6201 TO高温测试系统TO6201-LIV是联讯仪器提供的测试TO LIV，光谱测试机台，支持标准8x8老化夹具，主要功能和参数指标包括： • 支持TO的LIV扫描相关参数计算. • 支持中心波长和SMSR测试，是否跳模判断（多电流点光谱测试法）

联讯TO6200低温测试系统联讯仪器提供的测试设备需要支持如下TO 产品的LIV 与光谱测试，详细功能包括： - 支持TO 的LIV 扫描相关参数计算和算法选择 - 支持中心波长和SMSR 测试，是否跳模判断（多电流点光谱测试法）. - 支持LIV 和光谱并行测试

联讯BI4201-TO老化系统是联讯仪器提供的测试TO 标准老化系统，主要功能和特点包括：。 - 双温区，每个温区可以独立老化不同产品 - 大容量，每个温区支持1536 颗TO 的老化，共支持3072 颗TO 的老化 - 软件切换引脚定义，针对目前行业内不同的引脚封装通过软件切换实现 - 兼容小电流VCSEL TO 的老化和大电流FP/DFB TO 的老化

容测EA-I16汽车电源故障模拟器EA-I16 线束微中断模拟器(汽车电源故障模拟器)电源线信号线二合一设计，应用于汽车线束微中断测试，输出波形，最小支持1us中断试验。